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產品列表PRODUCTS LIST
平板電腦高低溫循環(huán)性能測試方法高低溫環(huán)境箱：
目的：很多工業(yè)控制場景下，對工控平板電腦、工控一體機、觸摸屏的環(huán)境適應性，特別是溫度的適應性要求。
設備：高低溫環(huán)境試驗箱
測試方法：
高溫運行測試
測試前先對整機基本功能進行測試，檢查外觀結構正常。工程師按照MIL-STD-810G方法501.5高溫過程，整機處于工作狀態(tài)，以正常位置放入試驗箱內，溫度設置60℃，連接適配器跑本地1080P視頻運行24H，每12H小時檢查一次，升降溫時間2H。
判斷標準：在高溫工作期間，不能出現系統(tǒng)死機、重啟、藍屏等系統(tǒng)運行不穩(wěn)定現象；視頻圖像、觸摸、聲音、按鍵功能檢查；測試后檢查機器基本功能，不能出功能失效問題；檢查顯示不能出現水印、白點、白斑等。
低溫運行測試
測試前先對整機基本功能進行測試，檢查外觀結構正常。工程師按照MIL-STD-810G方法501.5低溫過程，整機75%電量，處于工作狀態(tài)，以正常位置放入試驗箱內，溫度設置-20℃，連接適配器跑本地1080P視頻運行24H，每12H小時檢查一次，升降溫時間2H。
判斷標準：在低溫工作期間，不能出現系統(tǒng)死機、重啟、藍屏等系統(tǒng)運行不穩(wěn)定現象；視頻圖像、觸摸、聲音、按鍵功能檢查；測試后檢查機器基本功能，不能出功能失效問題；檢查顯示不能出現水印、白點、白斑等。
高溫存儲測試
測試前先對整機基本功能進行測試。關機狀態(tài)，70°C+/-2°C，持續(xù)時間48 Hrs，升降溫時間為2小時，常溫下恢復1小時再檢查電量及基本功能。
判斷標準：室溫環(huán)境，研維工程師測試整機基本功能無功能性問題；檢查產品外觀和結構正常。
低溫存儲測試
測試前先對整機基本功能進行測試。關機狀態(tài)，-30°C+/-2°C，持續(xù)時間24 Hrs，升降溫時間為2小時，常溫下恢復2小時再檢查電量及基本功能。
判斷標準：室溫環(huán)境，程師測試整機基本功能無功能性問題；檢查產品外觀和結構正常。
