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產品列表PRODUCTS LIST
電子類產品冷熱沖擊試驗方法冷熱沖擊試驗箱：
原理：
1、冷熱沖擊試驗(氣體)
有兩種實現(xiàn)方式，一種為手動轉換，將產品在高溫箱和低溫箱之間進行轉換，另一種為沖擊試驗箱，通過開關冷熱室的循環(huán)風門或其它類似手段實現(xiàn)溫度轉換。其中溫度上限、溫度下限為產品的存儲極限溫度值。
2、冷熱沖擊試驗(液體)
比試驗來源于IEC 60068-2-14試驗方法N:溫度變化中的NC。實現(xiàn)方式為吊籃式，將產品放置在吊籃中按照要求得入不同的溫度液體中。
冷熱沖擊試驗參考標準
EC 60068-2-14，GB/T 2423.22，GJB 150.5 等
試樣制備：
1、溫度范圍: -70～150℃
2、漏度范圍: 20～98%RH,濕差: 土2.5%RH
3、溫度速率:可依據客戶要求任意設定
4、內箱尺寸: 800*520*600mm
各類標準中的冷熱沖擊試驗均來源于IEC 60068-2-14試驗方法N: 溫度變化中的Na 。在特定時間內快速溫度變化試驗。
試驗目的可以應用于模擬產品遇到溫度情況下的工作情況，產品中大量的慢溫度循環(huán)，對應實際電子類產品溫度循環(huán)，用較快的溫度變化率及更寬的溫度變化范圍。失效模式為因老化和不同的溫度膨脹系數導致的材料裂化或密封失效。
預處理: 將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定初始檢測:將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內即可。
試驗方法:
1.試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，并將試驗箱(室)內溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)E以時間長都為準
2.高溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到-55的低溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。
3.低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到70的高溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準
4.重復上述實驗方法，以完成三個循環(huán)周期。根據樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差.
恢復:試驗樣品從試驗箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定最后檢測:對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。
